Analizador De Impedancia Química Hioki IM3590 está diseñado para realizar mediciones de impedancia (LCR) de materiales y componentes electroquímicos.
El Analizador De Impedancia Química Hioki IM3590 ofrece funcionalidades como generación de trama Cole-Cole y análisis de circuito equivalente con un amplio rango de medición de frecuencia desde 1mHz hasta 200KHz, medición de velocidad tan altas como 2ms, y una precisión básica de ± 0.05%.
Características
- La fuente de alimentación es de 100V hasta 240V AC, 50/60Hz, 5VA máximo.
- Posee diversos modos de medición: modo LCR, modo de medición continua, modo analizador (barridos con medición de frecuencia y nivel, características de temperatura, y análisis de circuito equivalente).
- Parámetros de medición Z (impedancia), Y (admitancia), θ (ángulo de fase), Rs (ESR – resistencia serie equivalente), Rp (resistencia paralela), Rdc (resistencia DC), X (reluctancia), G (conductancia), B (susceptancia), Cs (capacitancia serie), Cp (capacitancia paralela), Ls (inductancia serie), Lp (inductancia paralela), D (tanδ – coeficiente de pérdida), Q (factor Q = 1/D), T (temperatura), σ (conductividad), ε (constante dieléctrica).
- El tiempo de medida es 2 m.
- Tiene funciones de medición de voltaje de polarización DC, compensación de temperatura de resistencia DC (se visualiza la temperatura de referencia convertida), medición de temperatura, medición de batería (sistema de voltaje de polarización DC automático), comparador, medición BIN, cargar/guardar del panel, función de memoria.
- Posee interfaces EXT I/O, comunicación USB de alta velocidad, memoria USB. De forma opcional puede escoger una de RS-232C, GP-IB o LAN.
Especificaciones Analizador De Impedancia Química IM3590
| Modos de medida | Modo LCR, modo de medición continua (modo LCR / modo analizador), modo analizador (barridos con frecuencia de medición y nivel de medición, características de temperatura, análisis de circuito equivalente) |
|---|---|
| Parámetros de medida | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (resistencia de CC), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, T, σ (conductividad), ε (dieléctrico constante) |
| Rango de medicion | 100 mΩ a 100 MΩ, 10 rangos (todos los parámetros se determinan de acuerdo con Z) |
| Rango de visualización | Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, σ, ε: ± (0,00000 [unidad] a 9,99999G [unidad], visualización del valor absoluto para Z e Y solamente θ : ± (0,000 ° a 180,000 °), D: ± (0,00000 a 9,99999) Q: ± (0,00 a 99999,9), Δ%: ± (0,0000% a 999,999%) T: -10,0 ° C a 99,9 ° C σ, ε: ± (0,00000f [unidad] a 999,999G [unidad] |
| Precisión básica | Z: ± 0,05% rdg. θ: ± 0,03 ° |
| Frecuencia de medida | 1 mHz a 200 kHz (resolución de configuración de 5 dígitos, resolución mínima de 1 mHz) |
| Nivel de señal de medición | Modo normal: modo V / modo CV: 5 mV a 5 Vrms, pasos de 1 mVrms Modo CC: 10 μA a 50 mArms, pasos de 10 μArms Modo de baja impedancia y alta precisión: modo V / modo CV: 5 mV a 2,5 Vrms, 1 mVrms pasos modo CC: 10 μA a 100 mArms, pasos de 10 μArms |
| Impedancia de salida | Modo normal: 100 Ω, modo de alta precisión de baja impedancia: 25 Ω |
| Monitor | TFT a color de 5,7 pulgadas, la pantalla se puede activar / desactivar |
| Tiempo de medición | 2 ms (1 kHz, FAST, pantalla apagada, valor representativo) |
| Funciones | Medición de polarización de CC, compensación de temperatura de resistencia de CC (se muestra la temperatura de referencia convertida), medición de temperatura, medición de la batería (sistema automático de polarización de CC), comparador, medición de BIN (clasificación), carga / almacenamiento del panel, función de memoria |
| Interfaces | EXT I / O (controlador), comunicación USB (alta velocidad), memoria USB Opcional: elija 1 entre RS-232C, GP-IB o LAN |
| Fuente de alimentación | 100 a 240 V CA, 50/60 Hz, 50 VA máx. |
| Dimensiones y masa | 330 mm (12,99 pulgadas) de ancho × 119 mm (4,69 pulgadas) de alto × 168 mm (6,61 pulgadas) de profundidad, 3,1 kg (109,3 onzas) |
| Accesorios | Cable de alimentación × 1, manual de instrucciones × 1, CD-R (manual de instrucciones de comunicación y software de muestra [Control de comunicaciones, cálculo de precisión y funcionalidad de captura de pantalla]) × 1 |
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