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Analizador de Impedancia Hioki IM7587

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SKU:IM7587

Categorías:Probadores de LCR, Equipos para Medida Eléctrica y Accesorios

Marca:Hioki

Las imágenes de los productos son únicamente de referencia y pueden presentar variaciones

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Analizador de Impedancia Hioki IM7587, el analizador de impedancia de Hioki varía desde dispositivos de 1 MHz a 3 GHz para adaptarse a una amplia gama de aplicaciones en las pruebas de componentes electrónicos. El analizador de impedancia IM7587 ofrece un tiempo de medición máximo de 0,5 ms en un rango de frecuencia de 1 MHz a 3 GHz.

El analizador tiene una estabilidad superior, lo que lo hace ideal para la investigación y el desarrollo, así como para la producción de alto volumen de perlas de chip de ferrita e inductores.

El Hioki IM7587 tiene:

Una función de comparación que le permite comprobar si los valores medidos se encuentran dentro de un rango de juicio definido por el usuario. Esta funcionalidad es ideal para su uso en la generación de juicios de PASA/FALLA para muestras.
La función de verificación de contacto de los instrumentos que le permite verificar el contacto entre la muestra y los terminales de medición para detectar un contacto defectuoso o verificar un buen contacto.

Características

Frecuencia de la fuente de prueba de 1 MHz a 3 GHz
Velocidad de prueba más rápida de 0,5 mseg (tiempo de medición analógica)
0,07 % de variabilidad del valor medido (cuando se mide una bobina de 1 nH a 3 GHz)
±0.65% rdg. Precisión básica
Método RF I-V
Cuerpo de medio bastidor y cabezal de prueba del tamaño de la palma de la mano
Comprobación exhaustiva de los contactos (a través de pruebas DCR, rechazo Hi-Z o juicio de forma de onda)
Realice barridos de frecuencia, barridos de nivel y mediciones de intervalo de tiempo en el modo analizador

Especificaciones del Analizador de Impedancia Hioki IM7587

Modos de medición	Modo LCR, modo analizador (barridos con frecuencia y nivel de medición), modo de medición continua
Parámetros de medición	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Rango medible	De 100 mΩ a 5 kΩ
Rango de visualización	Z: 0,00 m a 9,99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0,000 m a 9,99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0,00000 n a 9,99999 GH) / Q: ± (0,00 a 9999,99) θ: ± (0,000° a 180,000°), Cs, Cp: ± (0,00000 p a 9,99999 GF) D: ± (0,00000 a 9,99999), Y: (0,000 n a 9,99999 GS) G, B: ± (0,000 n a 9,99999 GS), Δ%: ± (0,000 % a 999,999 %)
Precisión básica	Z: ±0.65 % rdg. — θ: ±0.38°
Frecuencia de medición	De 1 MHz a 3 GHz (resolución de ajuste de 100 kHz)
Nivel de la señal de medición	Potencia: -40,0 dBm a +1,0 dBm Tensión: 4 mV a 502 mVrms Corriente: 0,09 mA a 10,04 mArms
Impedancia de salida	50 Ω (a 10 MHz)
Monitor	TFT a color de 8,4 pulgadas con pantalla táctil
Velocidades de medición	RÁPIDO: 0,5 ms (tiempo de medición analógico, valor típico)
Funciones	Comprobación de contactos, Comparador, Medición BIN, Carga/almacenamiento de paneles, Función de memoria, Análisis de circuitos equivalentes, Compensación de correlación
Interfaces	E/S EXT, USB, memoria USB, LAN, RS-232C (opcional), GP-IB (opcional)
Fuente de alimentación	100 a 240 V CA, 50/60 Hz, 70 VA máx.
Dimensiones y masa	Unidad principal: 215 × 200 × 348 mm, 8,0 kg Cabezal de prueba: 90 × 64 × 24 mm, 300 g
Accesorios incluidos	Cabezal de prueba ×1, Cable de conexión ×1, Manual ×1, Disco de aplicación ×1, Cable de alimentación ×1